[image 00765] [本日締切]外観検査アルゴリズムコンテストへの参加のお誘い

Terachan terada @ is.tokushima-u.ac.jp
2014年 8月 1日 (金) 17:00:51 JST


image-ML 関係各位

お世話になっております.
外観アルコン実行委員長の寺田@徳島大学と申します.

下記に関しまして,本日,エントリー締切「予定日」です.
http://www.tc-iaip.org/alcon/

コンテストの詳細はメール末尾のとおりですが,対象が,
貴重な産業現場からの「生」欠陥画像となっており,
この機会を逃すと二度と手に入らないかも知れません.

エントリーすることでサンプル画像を download できます.
「匿名」でのエントリーも可能ですが,実名で登録されても,
その登録者情報は,実行委員会内でも完全非公開であり,
・作品に関するお問い合わせ
・表彰対象となったときのご連絡
以外,使用はしません.

大急ぎで「ご登録」だけでもと思います.
http://www.tc-iaip.org/alcon/

<精密工学会 画像応用技術専門委員会>―――――――――――――――――

       外観検査アルゴリズムコンテスト2014

――――――――――――――――――< http://www.tc-iaip.org/alcon/ >
■ 課題:鋳造部品の表面を連続的に撮影した画像系列からの欠陥検出
■ 内容:鋳造部品の表面を,なめるように連続的に撮影していった画像群
     から欠陥を検出する
■ エントリーの〆切:2014年 8月 1日(金)
■ 作品の提出の〆切:2014年 9月26日(金)
■ 結果発表・表彰式:2014年12月 4日(木) ViEW2014 に於いて
―――――――――――――――――――――――――――――――――――
画像応用技術専門委員会では,外観検査技術の発展を図るため,研究者・技術
者が共通で使える外観検査画像データベースの構築を進めつつ,その一環とし
て外観検査アルゴリズムコンテストを2001年より実施しております.お陰様で
実際の製造現場で生じる画像を『そのまま使用』,さらに『性能だけで評価』
と言う他に例を見ないユニークなコンテストとして広く認知されるようにな
り,ここ数年は,プロから学生まで,参加者が約150名を超えてております.

さて第14回の今回は,昨年度をさらにバージョンアップしました「鋳造部品
の表面を連続的に撮影した画像系列からの欠陥検出」アルゴリズムのコンテ
ストを実施することになりました.昨年度は1枚からの画像からの欠陥抽出
だったものを,本年度は,検査員の作業を模倣した対象物体をなめるように
撮影した画像群からの欠陥抽出となります.対象画像群は工場において製造
された鋳造部品を撮影したものであり,特に不良品画像などは,本来,世の
中には出回らないとても貴重なものです.エントリーすることでテスト用の
画像群と正解データを download できます.多数のご参加をお待ちしており
ます.なお匿名での登録も可能です.

詳細は website をご覧下さい(検索例 : 外観 アルコン).

以上,よろしくお願いします.
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~~)(_^ + _" terada @ is.tokushima-u.ac.jp
 (  _) | _  http://www-b1.is.tokushima-u.ac.jp/~terada


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