[image 04374] 外観検査アルゴリズムコンテストへの参加のお誘い

Kenji Terada terada @ tokushima-u.ac.jp
2021年 6月 30日 (水) 15:00:05 JST


image-ML 関係各位

お世話になっております.
寺田@徳島大学と申します.

まだまだ COVID-19 で大変な中,失礼します.

下記に関し,詳細とテスト用画像群を先週より公開しております.匿名での参加
も可能です.まずは正解付きデータをご覧いただくだけでも結構ですので,是非,
ご登録下さい.『Stay Home with the GAIKAN alcon!』

website⇒ http://www.tc-iaip.org/alcon/
概要説明(YouTube)⇒ https://youtu.be/zMlveDPglys

<精密工学会 画像応用技術専門委員会>―――――――――――――――――

       外観検査アルゴリズムコンテスト2021

――――――――――――――――――< http://www.tc-iaip.org/alcon/ >
■ 課題:X線CTによる工業製品の内部検査
     〜ボクセルデータからの欠陥検出〜
■ 内容:X線CTによって得られるボクセルデータから容器内の部品の欠陥を検出
■ エントリーの〆切:2021年 8月 6日(金)
■ 作品の提出の〆切:2021年10月 1日(金)
■ 予稿(2頁)の〆切:2021年10月15日(金)
■ 結果発表・表彰式:2021年12月 2日(木) ViEW2021 に於いて
―――――――――――――――――――――――――――――――――――
外観検査技術の発展を図る目的で,2001年より実施しております.お陰様で,
『実際の製造現場で生じる画像を使用』,『性能だけで評価』と言う他に例を
見ないユニークなコンテストとして広く認知されるようになり,例年,プロか
ら学生までの参加者が約150名となっております.

さて第21回の課題は,「X線CTによる工業製品の内部検査〜ボクセルデータから
の欠陥検出〜」で, 容器内部に混在する様々な部品の欠陥を検出する画像処理
コンテストです.貴重な画像データ群(各画像,専門家が作成した貴重な正解
データ付)はエントリーいただくことでご覧になれますので,まずはご登録をお
願いいたします(匿名での登録も可能です).

詳細は website をご覧下さい(検索例 : 外観 アルコン).

以上,よろしくお願いします. 
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~~)(_^ + _" terada @ is.tokushima-u.ac.jp
 (  _) | _  http://www-b1.is.tokushima-u.ac.jp/~terada



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